159-5003-5579 
电子测量仪表
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顶日置 HIOKI LCR测试仪IM3536
日置 HIOKI LCR测试仪IM3536 DC，4Hz~8MHz测量频率 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中
日置 HIOKI LCR -
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2ms的快速测试时间
日置 HIOKI LCR
