159-5003-5579 
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
2022-07-04
电子测量仪表
354
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2ms的快速测试时间
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2ms的快速测试时间
