日置 HIOKI 脉冲线圈测试仪ST4030A

日置 HIOKI 冲线圈测试仪ST4030A根据响应波形识别特征量LC和RC。 由于可以定量地将其作为电路常数值处理，因此可以基于数值数据清楚地确定判断阈值。 并且因为测试结果是数值，所以可以使用统计质量控制方法从测试结果中使用它们。 每匝短路的累积数据可以反馈到先前的过程以预测线圈缺陷并防止再次发生。